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產品詳細頁
視頻光學接觸角測定儀
- 更新時間:2025-02-25
- 產品型號:SL200L
- 廠商性質:生產廠家
- 產品品牌:KINO
- 產品廠地:國外
- 訪問次數:10633
產品介紹
產品定位
視頻光學接觸角測定儀SL200L是一款專為液晶、晶圓、半導體、矽片及光刻膠等精密材料表麵清潔度與潤濕性分析設計的設備。基於大移動平台與模塊化設計理念,該設備支持自動進液、動態接觸角及界麵張力測試,為工業質檢與研發提供精準數據支持。
視頻光學接觸角測定儀SL200L核心技術優勢
大移動平台設計:
適配大尺寸樣品(如PCB板、ipads顯示屏、觸摸屏)的清潔度與接觸角測量。
支持液晶、晶圓、半導體等精密材料的表麵潤濕性評估。
高精度光學係統:
工業級輪廓鏡頭:成像清晰,確保液滴輪廓精準識別。
石英玻璃柔光光源:均勻背景照明,提升圖像對比度。
智能化軟件係統(CAST™3.0):
動態接觸角分析:支持前進/後退角、滾動角及時間依賴性接觸角測量。
表麵自由能計算:分析色散力、極性力、氫鍵力等分量,評估材料表麵特性。
液-氣/液-液界麵張力測試:基於懸滴法(Pendant Drop)實現精準測量。
自動進液係統:
高精度液滴控製,適配微量樣品測試,減少試劑消耗。
行業痛點解決方案
表麵清潔度檢測:通過接觸角與界麵張力測試,快速評估液晶、晶圓、半導體等材料的表麵汙染物殘留。
光刻膠潤濕性分析:優化光刻工藝中的塗布均勻性與附著力,提升製造良率。
應用領域
液晶顯示:評估屏幕表麵清潔度與塗層潤濕性。
半導體製造:晶圓、矽片表麵汙染物檢測與潤濕性分析。
光刻膠研發:優化光刻膠塗布性能,提升工藝穩定性。
觸摸屏質檢:表麵清潔度與塗層附著力評估。
技術優勢
高精度控製:微米級定位精度,減少機械振動幹擾。
模塊化設計:支持功能擴展,適配多樣化測試需求。
操作友好性:向導式軟件界麵結合一鍵操作功能,降低使用門檻。
接觸角定義
在固體水平平麵上滴上一滴小液滴,在固體表麵的固-液-氣三相交界點處,由氣-液界麵和固-液界麵兩切線將液相夾在其中時所形成的角度,稱為接觸角。
SL200L係列接觸角測定儀產品特點與優勢
行業痛點解決方案
頂視3D接觸角功能:
用於評估液晶、晶圓、半導體等高精密材料表麵結構與化學多樣性對潤濕性的影響,解決傳統方法無法精準分析微觀粗糙表麵及複雜化學組成的難題。
力學鉑金板表麵張力測試:
通過高精度力學鉑金板法檢測矽片、光刻膠表麵的有機汙染物殘留,解決製造過程中汙染物快速篩查的行業痛點。
核心技術與配置
1. 高精度控製係統
交叉線性導軌技術:
手動控製精度0.01mm,軟件控製精度0.5μm,確保晶圓、半導體等精密樣品的穩定測量。
9維機械結構設計:
2XYZ+3水平調整係統,協調樣品台、相機、進樣係統運作,適配大尺寸顯示屏(如ipads、觸摸屏)測試。
納升級注射泵係統:
液滴控製精度達0.02μL(可擴展至nL級),滿足光刻膠微量塗布測試需求。
2. 專業化光學成像係統
高景深工業鏡頭(0.35-4.5X放大倍率):
清晰捕捉液晶、矽片表麵的微觀液滴形態,支持曲麵校正技術分析凹凸麵接觸角。
高速攝像係統:
德國原裝87幀/秒相機(可升級至1000幀/秒),動態記錄光刻膠潤濕過程。
可調LED冷光源:
避免液滴揮發幹擾,確保光敏材料(如光刻膠)測試穩定性。
3. 智能化分析軟件(CAST™2.0)
動態接觸角分析:
支持前進/後退角、滾動角及時間依賴性接觸角測量,適配半導體表麵汙染物動態吸附研究。
表麵自由能模型:
12種算法(如Acid-base法)分析色散力、極性力,評估材料表麵清潔度與塗層兼容性。
液-液界麵張力測試:
基於Young-Laplace方程擬合,支持光刻膠與顯影液的界麵行為分析。
4. 擴展功能與兼容性
模塊化進樣係統:
兼容PTFE針管、細針管,適配高粘度光刻膠及疏水材料測試。
標準化視頻模式:
支持多品牌主機升級,數據可導出為Excel/BMP格式,滿足科研論文與工業報告需求。
抗靜電設計:
離子風技術消除晶圓、半導體測試中的靜電幹擾,提升測值準確性。
應用場景
液晶顯示行業:屏幕表麵清潔度與塗層潤濕性檢測。
半導體製造:晶圓/矽片汙染物篩查、光刻膠塗布均勻性評估。
觸摸屏質檢:表麵附著力與清潔度分析。
光刻膠研發:優化配方潤濕性能,提升工藝良率。
技術優勢
精準適配高精密材料:專為微電子行業設計,解決表麵結構複雜、汙染物難檢測的痛點。
全流程自動化:一鍵完成圖像捕獲、計算與數據保存,減少人為誤差。
抗幹擾設計:多層水平調整係統結合防靜電技術,確保環境下的測試穩定性。
附件:
1、溫度控製裝置:
包括(1)樣品溫度控製(2)測試液體溫度控製;
這是兩個溫度控製係統,分別控製液體以及固體樣品的溫度。可單獨采購,也可以同時采購。
→固體樣品溫度控製方式可選以下兩種溫度控製方式之一:
(1)恒溫水槽控製:0-95℃,溫度誤差在0.1℃;
(2)半導體加熱製冷:5-85℃,溫度誤差在0.5℃;
(3)特殊溫度加熱係統:如200℃、400℃溫度控製要求可與午夜福利黄色视频確認。
→液體溫度控製方式建議采用恒溫水槽的方式。
2、高溫接觸角測試:最高實現1400、1700、1800、2000度接觸角測試;定製產品,需支付定金。
3、真空環境裝置:實現真空或不同氣體環境下接觸角測試;定製產品,需支付定金。
4、樣品槽:有效控製樣品的晃動以及溫度、光線等影響;定製產品,需支付定金。
5、高溫界麵張力測試:熔化的固體材料與空氣的界麵張力測試,采用懸滴法或停滴法界麵張力分析技術。定製產品,需支付定金。
6、全係列針管與針頭
包括: 25uL、100uL、500uL、1000uL高精度微量進樣器、以及聚四氟乙烯針頭、不鏽鋼針頭(各種直徑)、塑料針頭、彎曲針頭等
7、高精度雙通道軟件控製自動注射泵
8、專用夾具:用於夾持纖維、薄膜、紙張等
9、氣泡捕獲法用石英玻璃樣品槽
10、振蕩滴(oscillating drop)測試模塊
(1)采用高頻振蕩器以及閉環式振蕩控製係統,控製精度更高、控製方式更為靈活,可根據客戶需求選購不同振蕩頻率和振蕩幅度的振蕩器。
序號 | 振蕩幅度 | 振蕩最高頻率 |
1 | 2uL | 100z |
2 | 10uL | 100Hz |
3 | 10uL | 60Hz |
4 | 20uL | 60Hz |
(2)進樣針管可選:0.5uL、1uL、5uL、15uL、100uL、500uL、1000uL等。
(3)振蕩波形包括:正弧波、餘弧波、三角波、線性波、鋸齒波等,頻率在2KHz以內不衰減、不失真。
CAST2.0影像分析係統測試實圖示例
1、前進後退角分析實圖:
圖1 分析方法:曲線尺擬合法(圓擬合、spline擬合、廣義二次曲線擬合等)。
前進角/後退角測試建議采購注射泵或蠕動泵。前進角/後退角形成的技術有兩種方式:(1)增加/減少液滴量,形成前進/後退角;(2)樣品台傾斜,形成前進後退角。如上圖所示
2 、非規則接觸角分析實圖:
圖中拍攝的是矽膠的實際效果圖,采用曲線尺擬合技術計算接觸角值。擬合因子90%以上。
圖2 分析方法:Spline曲線擬合法或Young-Laplace方程擬合法
特別聲明:
1、以上圖片資料以及技術參數因設計而進行的更改,不再另行通知,以最新確認的產品資料為準。
2、本公司保留一切權利。
3、阿莎®、RealDrop®、TrueDrop®、MicroDrop®、WBA®、ADSA®是上海梭倫的注冊商標。
CAST®、阿莎®、ADSA®、TrueDrop®、RealDrop®、TheDrop®、MicroDrop®、LMCA®、Shsolon®、梭倫®為上海梭倫注冊商標。
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